该设备为基础性的低温物性测量和实验探究平台，可广泛应用于各类低温物性测量实验，如傅里叶红外光谱、泵浦探测、荧光测试、电输运、量子通信、拉曼成像、磁光克尔等等。

技术指标及配置要求：

1、系统应无需消耗制冷液（液氦、液氮）：

2、基系统温度性能：

2.1、样品台温度范围：无负载情况下，3.2K-350K；

2.2、温度稳定性：无负载情况下，峰值波动≤15mK；

2.3、制冷时间：无负载情况下，从300K降温至4.2K所用时间≤2.5hrs；

2.4、系统在全温度范围内可自由设定温度；

2.5、制冷压缩机类型：风冷变频压缩机，无需水冷系统；

3、样品台振动稳定性：无负载情况下峰值振动≤5nm；

4、基系统真空性能：

4.1、配备机械泵及低温泵双级真空系统；

4.2、低温工作时腔内真空度≤0.1mTorr；

5、标准样品腔：

5.1、光学窗口应具有冷窗热窗两层，窗片需为可替换式设计；

5.2、配备不少于28条腔内外连接的电学引脚（其中用户可自由使用的不少于20条）；

5.3、标准腔内自由空间：不小于φ50mm×H60mm；

6、配备样品腔外延组件，样品腔与制冷机的间距延伸12cm；

7、顶部低工作距离顶盖：

7.1、工作距离≤4mm；

7.2、窗体材料：增透石英玻璃或BK7；

8、侧向低工作距离组件：

8.1、工作距离≤4mm；

8.2、窗体材料：增透石英玻璃；

8.3、侧向LWD专用样品托；

9、配备电学测量样品托：

9.1、CB12规格；

9.2、12根电学测量针脚；

10、配备后续位移台集成用的适配组件；

11、设备需可后续升级光纤引入、RF引入、气氛引入、内置位移台、磁体、内置显微等功能；