本套系统可以用于相关课程的课堂教学、课题研究、项目开发等，包括IC芯片的设计，测试，改良等

矢量教学源主要用于课堂教学，进行矢量信号的产生，添加AWGN，进行双音多音测试等

1. 芯片EMC测试接地平面：

1.1配备符合IEC61967和IEC 62132的的接地平面1个，尺寸100mm × 100mm，材质钢质镀金。

1.2具有接地平面适配器板4个，可以将接地平面的窗口适配到四个常规尺（22.9X22.9/32.9X32.9/22.9X68.3/45.8X68.3mm）的IC。

1.3配置配套的示波器探头支架1个。

1.4配置30°探头和45°探头支架各1个。

1.5配置通用控制类IC测试母版一块，并配置相应软件，软件可以监控被测IC的引脚状态。

1.6 配置USB摄像头一个，用于帮助探头对准

1.7配置探针固定夹具1个。

1.8配置作为控制台的电脑1台

1.9配置配合教学演示用的IUT1个

2. 类TEM小室辐射发射测试附件：

2.1配置类TEM小室测试法的近场磁场探头1个，频率范围为DC～3GHz，近场磁场探头配置不同适配垫圈使探头距离IC 3mm或者10mm，探头可旋转，阻抗50Ω。

2.2配置类TEM小室测试法的近场电场探头1个，频率范围不DC～3GHz，近场电场探头配置不同适配垫圈使探头距离IC 3mm或者10mm，探头可旋转，阻抗50Ω。

2.3配置测试所需的负载和射频电缆等附件。

3. 1Ω/150Ω直接耦合法：

3.1具有符合IEC61967-4的1Ω直接耦合EMI测试探头1个，频率范围9kHz～3GHz，RF输出阻抗50Ω。用于芯片接地pin脚的传导发射的测试。

3.2具有符合IEC61967-4的150Ω直接耦合EMI测试探头1个，，RF输出阻抗50Ω。用于芯片电源、信号线pin脚的传导发射的测试

4 IC表面扫描法探头：

4.1 配置H场水平极化ICR探头1个，H-场，水平极化，频率范围2 MHz to 6 GHz，内置前置放大器。

4.2 配置H场垂直极化ICR探头1个，H-场，垂直极化，频率范围2 MHz to 6 GHz，内置前置放大器

5. TEM小室辐射抗扰度测试附件：

5.1具有射频磁场注入探头1个，磁场注入探头配置不同适配垫圈使探头距离IC 3mm或者10mm，探头可旋转，阻抗50Ω，频率不小于3GHz。

5.2具有射频电场注入探头1个，电场注入探头配置不同适配垫圈使探头距离IC 3mm或者10mm，探头可旋转，阻抗50Ω，频率不小于3GHz，探头内部具有电压传感器可以进行系统校准。

6、IC静电放电抗扰度测试系统：

6.1配置ESD信号发生器1台，可以由电脑控制，输出波形符合IEC61000-4-2的要求，最大输出电压不小于6kV。

6.2配置针对集成电路引脚接触放电探头1个，脉冲电压6kV，能够由ESD信号发生器控制。

7、EFT脉冲抗扰度

7.1含高压控制台1台，电压范围±（5V--500V），含外部触发端口以实现同步注入。

7.2 EFT电流注入探头，注入波形1.5 / 5 ns，频率范围0.1 Hz - 10 kHz，电压范围± (0.4 - 40) V。

7.3 EFT电压注入探头，注入波形1.5 / 5 ns，频率范围0.1 Hz - 10 kHz，电压范围± (5 - 500)